SiC குறைபாட்டுக்கான 459 nm ஒளிச் சமிக்ஞையை கண்டறிந்த கொரியக் குழு; 15 ஆண்டுகால ஆய்வு வழிகாட்டுதலுக்கு சவால்

104,439 குறைபாடுகள் தவறான அடையாளச் சமிக்ஞையை வெளிச்சத்துக்குக் கொண்டுவந்தன

தென் கொரிய ஆய்வுக் குழு, ஒன்பது விநியோகஸ்தர்களிடமிருந்து பெறப்பட்ட 207 வணிகச் செதில்களில் இருந்த 104,439 அடுக்குப் பிழைகளை ஆய்வு செய்த பிறகு, சிலிக்கான் கார்பைடு மின்சக்திக் குறைக்கடத்திகளில் காணப்படும் ஒரு குறைபாட்டுக்கான வேறுபட்ட ஒளிச் சமிக்ஞையைக் கண்டறிந்துள்ளது. குறைக்கடத்தி ஆய்வில் பயன்படுத்தப்படும் சர்வதேசத் தரநிலையான IEC 63068-3:2020-இல் இடம்பெற்றுள்ள அடையாள மதிப்பைத் திருத்துவதற்கான அறிவியல் அடிப்படையை இந்தக் கண்டுபிடிப்பு வழங்குகிறது.

நிலையான (4,1) ஃபிராங்க்-வகை அடுக்குப் பிழை என அறியப்படும் இந்தக் குறைபாடு, அறை வெப்பநிலையில் 459 நானோமீட்டர் சிறப்பியல்பு அலைநீளத்தில் ஒளியை வெளியிடுகிறது. சுமார் 15 ஆண்டுகளாக, இது 424 நானோமீட்டருடன் தொடர்புபடுத்தப்பட்டு வந்தது; அந்த மதிப்பு சர்வதேச மின் தொழில்நுட்ப ஆணையத்தின் வழிகாட்டுதலிலும் இடம்பெற்றது.

கொரியா மின் தொழில்நுட்ப ஆராய்ச்சி நிறுவனத்தின் அடுத்த தலைமுறை குறைக்கடத்தி ஆராய்ச்சி மையத்தின் முதன்மை ஆராய்ச்சியாளர் நா மூன்கியோங் இந்தப் பணிக்குத் தலைமை தாங்கினார். சுங்னம் தேசியப் பல்கலைக்கழகப் பேராசிரியர் ஹொங் சூன்கூவின் குழு, HORIBA STEC Korea, SK siltron மற்றும் பிற கூட்டாளர்களுடன் இணைந்து இப்பணியில் ஈடுபட்டது. தனித்த குறைபாடுகளிலிருந்து வெளிப்படும் ஒளியை, அவற்றின் உண்மையான அணு அமைப்புகளின் படங்களுடன் இந்த ஆய்வு இணைத்தது.

குழுவின் Acta Materialia ஆய்வு, ஒளியியல் அளவீடுகள், அணு அமைப்புகளைக் காட்டக்கூடிய நுண்ணோக்கி மற்றும் பொருளுக்குள் எலக்ட்ரான்கள் எவ்வாறு செயல்படுகின்றன என்பதற்கான கணக்கீடுகள் ஆகியவற்றை ஒருங்கிணைக்கிறது. இந்த முறைகள் அனைத்தும் சேர்ந்து, நிலையான (4,1) பிழையின் சிறப்பியல்பு சமிக்ஞை 459 நானோமீட்டர் என்பதை உறுதிப்படுத்துகின்றன.

மின்சார வாகனங்கள், மின்னேற்றிகள் மற்றும் புதுப்பிக்கத்தக்க ஆற்றல் சாதனங்களில் பயன்படுத்தப்படும் பொருட்களை இன்னும் துல்லியமாக ஆய்வு செய்வதே இதன் நடைமுறை இலக்கு. குறைபாடுகளின் காரணங்களைக் கண்டறிந்து உற்பத்தியைச் சரிசெய்வதற்கு முன், உற்பத்தியாளர்கள் தாங்கள் காணும் குறைபாடுகள் எவை என்பதைத் தெரிந்துகொள்ள வேண்டும். ஆய்வு வழிகாட்டுதலை மறுபரிசீலனை செய்வதற்கான அடிப்படையை இந்த ஆராய்ச்சி வழங்குகிறது; IEC தரநிலையில் முறையான மாற்றங்கள், தொழிற்சாலைகளில் அவற்றை ஏற்றுக்கொள்வது, அதன் விளைவாக சாதனங்களின் நம்பகத்தன்மை மேம்படுவது ஆகியவற்றுக்கு இன்னும் கூடுதல் பணிகள் தேவை.

அணு அடுக்கில் ஏற்படும் சிறிய மாற்றம் ஏன் முக்கியம்

பொதுவாக SiC எனச் சுருக்கப்படும் சிலிக்கான் கார்பைடு, உயர் மின்னழுத்தங்களையும் வெப்பநிலைகளையும் தாங்கிக்கொண்டு மின்சாரத்தைக் கட்டுப்படுத்த வேண்டிய சாதனங்களில் பயன்படுகிறது. வாகன இயக்க அமைப்புகள், புதுப்பிக்கத்தக்க ஆற்றல் நிறுவல்கள் உள்ளிட்டவற்றில் மின்சக்தியை மாற்றவும் கட்டுப்படுத்தவும் மின்சக்திக் குறைக்கடத்திகள் உதவுகின்றன.

செதில் என்பது சாதனங்கள் தயாரிக்கப்படும் குறைக்கடத்திப் பொருளின் மெல்லிய துண்டாகும். இந்த ஆய்வு, அணுக்கள் குறிப்பிட்ட மீளும் அடுக்கமைப்பைப் பின்பற்றும் சிலிக்கான் கார்பைடின் ஒரு வடிவமான 4H-SiC-ஐப் பற்றியது. எபிடாக்சியல் செதிலின் மேற்பரப்பில், சாதனங்கள் தயாரிப்பதற்காக கூடுதல் படிக அடுக்கு வளர்க்கப்பட்டிருக்கும்.

அந்தச் சீரான அமைப்பு தடைபடும்போது அடுக்குப் பிழைகள் ஏற்படுகின்றன. சிலவற்றில் அடுக்குகள் விடுபடுகின்றன அல்லது கூடுதலாகச் சேர்க்கப்படுகின்றன; மற்றவை படிகத்தின் பகுதிகள் ஒன்றுக்கொன்று தொடர்பாகச் சரியும்போது உருவாகின்றன. வண்ணத் தாள்களை ஒழுங்காக அடுக்கியிருப்பதாகக் கருதுங்கள்: ஒரு தாளைச் சேர்ப்பது, நீக்குவது அல்லது நகர்த்துவது அதைச் சுற்றியுள்ள அமைப்பை மாற்றும்.

அணு அமைப்பு, எலக்ட்ரான்கள் நகரும் விதத்தையும் ஆற்றலை வெளியிடும் விதத்தையும் பாதிக்கிறது. எனவே ஒரு குறைபாடு, சாதனத்தின் மின் பண்புகளையும் ஆய்வின்போது வெளிப்படும் ஒளியையும் மாற்றக்கூடும். (4,1) என்ற குறியீடு ஒரு குறிப்பிட்ட அடுக்குவரிசையைக் குறிக்கிறது; அது குறைபாட்டின் அளவைக் குறிக்கும் அளவீடு அல்ல.

ஒளி எவ்வாறு தவறாக வழிகாட்டும் அடையாளமாக மாறியது

ஒளிவெளியீட்டு ஆய்வு (PL) முறையில், செதிலின் மீது ஒளி செலுத்தி, பொருளிலிருந்து திரும்ப வரும் ஒளி அளவிடப்படுகிறது. குறைபாடுகள் சிறப்பியல்பு ஒளிச் சமிக்ஞைகளை உருவாக்கலாம். இதனால் செதிலை உடைக்காமலேயே ஆய்வுக் கருவிகள் அவற்றைக் கண்டறிந்து வகைப்படுத்த முடியும்.

அலைநீளம் என்பது ஒளி அலையின் அடுத்தடுத்த உச்சங்களுக்கு இடையிலான தூரமாகும். ஒரு நானோமீட்டர் என்பது ஒரு மீட்டரில் நூறு கோடியில் ஒரு பங்கு. திருத்தப்பட்ட 459 நானோமீட்டர் சமிக்ஞை, பழைய 424 நானோமீட்டர் மதிப்பைவிட 35 நானோமீட்டர் அதிகம்; முந்தைய மதிப்புடன் ஒப்பிடுகையில் இது சுமார் 8.3 சதவீத வேறுபாடாகும்.

வெவ்வேறு அணுக் குறைபாடுகள் அருகருகிலுள்ள அலைநீளங்களில் ஒளியை வெளியிடலாம். எனவே ஒவ்வொரு ஒளிச் சமிக்ஞையையும் அதை உருவாக்கும் அமைப்புடன் நம்பகமாகப் பொருத்துவது ஆய்வு அமைப்புக்கு அவசியம். இந்தப் பொருத்தம் தவறாக இருந்தால், கருவி உண்மையான குறைபாட்டைக் கண்டறிந்தாலும் அதற்குத் தவறான பெயரை வழங்கக்கூடும்.

புதிய ஆய்வில் பயன்படுத்தப்பட்டதைப் போன்ற ஒளிச் சமிக்ஞைகளையும் அணு அமைப்புகளையும் நேரடியாகப் பொருத்தும் முறையின்றியே, முந்தைய 424 நானோமீட்டர் அடையாளம் நிலைபெற்றிருந்தது. ஒளி அளவிடப்பட்ட துல்லியமான இடங்களுக்குத் திரும்பிச் சென்று ஆராய்ச்சியாளர்கள் இந்தச் சிக்கலைக் கையாண்டனர்.

முழுச் செதில்களிலிருந்து தனித்தனி அணு அடுக்குகள் வரை

ஒன்பது விநியோகஸ்தர்களிடமிருந்து பெறப்பட்ட 207 வணிகச் செதில்களின் விரிவான ஆய்வுடன் குழு பணியைத் தொடங்கியது. ஒற்றை ஆராய்ச்சி மாதிரியின் சிறிய பகுதியை மட்டும் ஆய்வு செய்வதற்குப் பதிலாக, இந்தத் தொகுப்பு பல்வேறு விநியோகஸ்தர்களின் செதில்களைப் பற்றிய பார்வையை வழங்கியது. வணிகப் பொருட்களில் ஃபிராங்க்-வகை அடுக்குப் பிழைகள் முக்கியமான குறைபாட்டுக் குழுவாகத் தெரியவந்தன.

பின்னர், நெருக்கமாக ஆய்வு செய்வதற்காக ஆராய்ச்சியாளர்கள் தனித்த குறைபாடுகளைத் தேர்ந்தெடுத்தனர். அவற்றின் இருப்பிடங்களையும் ஒளிவெளியீட்டு அலைநீளங்களையும் PL அளவீடுகள் மூலம் பதிவுசெய்த பிறகு, அதே இடங்களிலிருந்து மிக மெல்லிய மாதிரிகளைத் தயாரிக்கக் குவிய அயனி கற்றையைப் பயன்படுத்தினர். இந்த ஆய்வில், ஃபிராங்க்-வகை, ஷாக்லி-வகை மற்றும் பிற அடுக்குப் பிழை அமைப்புகளைக் கொண்ட 176 மாதிரிகளை அவர்கள் பரிசோதித்தனர்.

HAADF HR-STEM எனச் சுருக்கப்படும் மேம்பட்ட எலக்ட்ரான் நுண்ணோக்கி நுட்பம், அணு அமைப்புகளை வெளிப்படுத்தியது. இதன் முழுப் பெயர், உயர் கோண வளைய இருண்ட-புல உயர் தெளிவுத் திறன் கொண்ட ஸ்கேனிங் டிரான்ஸ்மிஷன் எலக்ட்ரான் நுண்ணோக்கி என்பதாகும். எளிமையாகச் சொன்னால், இது மிக மெல்லிய மாதிரியின் வழியே எலக்ட்ரான்களைச் செலுத்தி, சிதறிய எலக்ட்ரான்களைப் பயன்படுத்தி அணுத் தூண்களைக் கூட வேறுபடுத்திக் காணக்கூடிய விரிவான படத்தை உருவாக்குகிறது.

இலக்கு வைத்து நடத்தப்பட்ட ஆய்வில் 459 நானோமீட்டரில் ஒளியை வெளியிட்ட ஒன்பது தனித்த குறைபாடுகள் இடம்பெற்றன. அவற்றில் ஆறின் உண்மையான (4,1) அணு அமைப்பை ஆராய்ச்சியாளர்கள் உறுதிப்படுத்தினர். அளவிடப்பட்ட ஒளிச் சமிக்ஞையையும் காணக்கூடிய அடுக்கமைப்பையும் நேரடியாக இணைத்தது, திருத்தப்பட்ட அடையாளத்துக்கான பரிசோதனை அடிப்படையை வழங்கியது.

திட்டத்துக்குத் தலைமை தாங்கிய KERI முதன்மை ஆராய்ச்சியாளர் நா, இந்த இரு அளவீடுகளையும் இணைப்பதன் முக்கியத்துவத்தை விவரித்தார்:

ஒளிச் சமிக்ஞைகளை உண்மையான அணு அமைப்புகளுடன் நேரடியாக இணைத்து, நீண்டகாலமாக ஏற்றுக்கொள்ளப்பட்ட உலகளாவிய அடையாளத் தரநிலையின் பிழையைத் திருத்தியிருப்பது குறிப்பிடத்தக்கது.

மீத்திறன் கணினிக் கணக்கீடுகள் கண்டறிந்தவை

குறைபாடுகளின் பண்புகளைக் கணக்கிட, ஆராய்ச்சியாளர்கள் அடர்த்திச் சார்புச் கோட்பாடு (DFT) முறையையும் பயன்படுத்தினர். ஒரு பொருளில் எலக்ட்ரான்கள் எவ்வாறு செயல்படுகின்றன என்பதை மதிப்பிடும் இந்த முறை, அணு அமைப்பை அதன் ஆற்றல் நிலைகளுடனும் சாத்தியமான ஒளிச் சமிக்ஞைகளுடனும் இணைக்க ஆராய்ச்சியாளர்களுக்கு உதவுகிறது.

மூன்று கோட்பாட்டுக் கணக்கீட்டு அணுகுமுறைகள், தொடர்புடைய ஒளிவெளியீட்டை சுமார் 444 முதல் 450 நானோமீட்டர் வரையிலான பகுதியில் அமைத்தன. அறை வெப்பநிலையில் அளவிடப்பட்ட அலைநீளம் 459 நானோமீட்டராக இருந்தது. எனவே கணக்கீடுகள், நீண்டகாலமாகப் பயன்படுத்தப்பட்ட 424 நானோமீட்டர் மதிப்பைவிட சுமார் 450 நானோமீட்டருக்கு அருகிலான ஒளிவெளியீட்டை ஆதரித்தன; அதேவேளை, ஆய்வக அளவீட்டுடன் எண்ணியல் வேறுபாடும் இருந்தது.

இந்தக் கட்டுரை, கணக்கீடுகளுடன் நுண்ணோக்கி ஆய்வையும் PL நிறமாலை அளவீட்டையும் ஒருங்கிணைக்கிறது. PL நிறமாலை அளவீடு, வெவ்வேறு அலைநீளங்களில் ஒரு பொருள் எவ்வளவு வலுவாக ஒளியை வெளியிடுகிறது என்பதை அளக்கிறது. 459 நானோமீட்டர் ஆய்வு மதிப்பை பரிசோதனை அளவீடு வழங்குகிறது; அமைப்புக்கும் ஒளிக்கும் இடையிலான தொடர்பை ஆராய கணக்கீடுகள் மற்றொரு வழியை அளிக்கின்றன.

மேலும் விரிவான கணக்கீடுகள், அடுக்குப் பிழைகளின் ஆற்றல்களையும் மின்னணுப் பட்டை அமைப்புகளையும் ஒப்பிடுகின்றன. பிழை ஆற்றல் என்பது படிகத்தில் ஒரு குறிப்பிட்ட இடையூறு ஏற்படுவதற்குத் தேவைப்படும் ஆற்றலைக் குறிக்கிறது. மின்னணுப் பட்டை அமைப்பு என்பது எலக்ட்ரான்கள் பெற்றிருக்கக்கூடிய ஆற்றல்களைக் குறிக்கிறது; வெவ்வேறு குறைபாடுகள் ஏன் வெவ்வேறு ஒளியியல் நடத்தைகளைக் கொண்டுள்ளன என்பதை இது விளக்க உதவுகிறது.

2024 ஆய்வே பழைய அடையாளத்தை ஏற்கெனவே கேள்விக்குள்ளாக்கியது

2024 ஜூன் 1 அன்று Materials Science in Semiconductor Processing இதழில் வெளியான முந்தைய செதில் ஆய்வு ஆய்வு, 70 வணிகச் செதில்களில் இருந்த சுமார் 50,000 அடுக்குப் பிழைகளைப் பரிசோதித்தது. அதிலும் ஒளியியல் அளவீடுகள், தேர்ந்தெடுக்கப்பட்ட அணு அமைப்புகளின் நேரடி ஆய்வுடன் இணைக்கப்பட்டன.

முன்பு ஃபிராங்க்-வகை (4,1) குறைபாட்டுடன் தொடர்புபடுத்தப்பட்ட 424 நானோமீட்டரில், ஒற்றை ஷாக்லி-வகை (3,1) அடுக்குப் பிழை இருப்பதை அந்த ஆய்வு கண்டறிந்தது. 420 முதல் 430 நானோமீட்டர் வரையிலான பகுதியில் ஒளியை வெளியிட்ட குறைபாடுகளை ஆராய்ச்சியாளர்கள் தேடியபோதும், எதிர்பார்க்கப்பட்ட (4,1) அமைப்பைக் காணவில்லை.

2024 ஆய்வு, உள்ளார்ந்த ஃபிராங்க்-வகை (5,2) பிழைகளின் சிறப்பியல்பு சமிக்ஞையையும், முன்பு தெரிவிக்கப்பட்ட 488 நானோமீட்டருக்குப் பதிலாக 482 முதல் 484 நானோமீட்டராக மறுநிர்ணயம் செய்தது. அந்த அலைநீளப் பகுதியில் பரிசோதிக்கப்பட்ட அமைப்புகள் பெரும்பாலும் (5,2) பிழைகளாக இருந்தன; முந்தைய அலைநீள அடையாளங்கள் சுட்டிக்காட்டிய மும்மை ஷாக்லி-வகை (5,3) பிழைகளாக அல்ல. அந்த ஆய்வில் (5,3) பிழைகள் எதுவும் காணப்படவில்லை.

அருகிலுள்ள பிற சமிக்ஞைகளையும் எளிதாகப் பிரித்தறிய முடிந்தது: பல அடுக்கு ஃபிராங்க்-வகை (4,2) பிழைகளை 457 நானோமீட்டரிலும், நான்கு அடுக்கு ஷாக்லி-வகை (4,4) பிழைகளை 462 நானோமீட்டரிலும் ஆய்வு அளந்தது. துல்லியமான அளவுத்திருத்தமும் நேரடி அமைப்புச் சரிபார்ப்புகளும், சில நானோமீட்டர்கள் மட்டுமே வேறுபடும் ஒளிச் சமிக்ஞைகளைக் கொண்ட குறைபாடுகளை வேறுபடுத்த உதவின.

புதிய ஆய்வு, முந்தையதைவிட கிட்டத்தட்ட மூன்று மடங்கு அதிகமான செதில்களை உள்ளடக்கியது: 70-க்கு எதிராக 207. மேலும், பதிவுசெய்யப்பட்ட பிழைகளின் எண்ணிக்கை இரண்டு மடங்குக்கும் சற்று அதிகம்: சுமார் 50,000-க்கு எதிராக 104,439. இதன் முன்னேற்றம் குறிப்பிட்ட ஒன்றாகும்: 424 நானோமீட்டருக்கு அருகில் எதிர்பார்க்கப்பட்ட (4,1) அமைப்பைக் கண்டறிய முந்தைய ஆய்வு தவறிய நிலையில், புதிய ஆய்வு அதை 459 நானோமீட்டருடன் இணைக்கிறது.

பிழைகளை வகைப்படுத்தும் முறையையும் ஆய்வுக் கட்டுரை திருத்துகிறது

ஒரு அலைநீளத்தை மாற்றுவதுடன் Acta Materialia ஆய்வுக் கட்டுரை நிற்கவில்லை. ஃபிராங்க்-வகை அடுக்குப் பிழைகளை உள்ளார்ந்தவை அல்லது புறச்சார்பானவை என வகைப்படுத்தும் முறையையும் அது மறுபரிசீலனை செய்கிறது. இந்தச் சொற்கள், சுற்றியுள்ள படிக அமைப்புடன் அவற்றுக்குள்ள தொடர்பைக் குறிக்கின்றன.

ஃபிராங்கின் அசல் படிகவியல் வரையறையைப் பயன்படுத்தி, பரவலாக விவாதிக்கப்படும் (3,2) பிழை, அதன் உருவாக்கத்தில் செருகல் இடம்பெற்றாலும், உள்ளார்ந்தது என ஆசிரியர்கள் வகைப்படுத்துகின்றனர். வகைப்பாடு என்பது படிகத்தின் இறுதி அமைப்பைப் பொறுத்தது; உருவாக்கச் செயல்முறை அந்த அமைப்பு எவ்வாறு உருவானது என்பதை விவரிக்கிறது.

அணு அளவிலான ஆய்வுகள், நிலையான (5,2), (4,2) மற்றும் (4,1) பிழைகளுக்கு இடையிலான அமைப்புத் தொடர்புகளையும் காட்டுகின்றன. இந்த அமைப்புகள் ஒன்றிலிருந்து மற்றொன்றாக உருவாகக்கூடிய ஒரு சாத்தியமான வழியை இக்கவனிப்புகள் ஆதரிக்கின்றன. பொருள் வளர்ச்சி அல்லது செயலாக்கத்தின்போது ஒரு குறிப்பிட்ட குறைபாடு ஏன் தோன்றுகிறது என்பதை ஆராய இத்தகைய தொடர்புகளைப் புரிந்துகொள்வது உதவலாம்.

தரமற்ற பிழைகளில், அடுக்குவரிசையை விவரிக்கப் பயன்படுத்தப்படும் எண் அடையாளங்களான ஒரே மாதிரியான ஷ்டானோவ் குறியீடுகள், உள்ளார்ந்த அல்லது புறச்சார்பான அமைப்புகளில் ஏதேனும் ஒன்றைக் குறிக்கக்கூடும் என ஆசிரியர்கள் கண்டறிந்தனர். எனவே அந்தக் குறியீட்டை விளக்குவதற்கு அதைச் சுற்றியுள்ள படிகவியல் அமைப்பும் தேவைப்படுகிறது.

(1,1) மற்றும் (2,1) பிழைகளில் கூடுதல் வேறுபாடுகளையும் கணக்கீடுகள் கண்டறிந்தன. அவற்றின் மின்னணுப் பண்புகள் சிலிக்கான் கார்பைடின் 2H வடிவத்தை ஒத்திருக்கின்றன; ஆய்வு செய்யப்பட்ட பெரும்பாலான பிழைகளின் நிலைகள் கனசதுர 3C வடிவத்தை ஒத்துள்ளன. அணு அடுக்கமைப்பில் ஏற்படும் மாற்றங்கள் மின்னணு மற்றும் ஒளியியல் நடத்தையை எவ்வாறு மாற்றுகின்றன என்பது குறித்த கட்டுரையின் விரிவான விளக்கத்துடன் இந்த முடிவுகள் வகைப்பாட்டு ஆய்வையும் இணைக்கின்றன.

வெளியீடு, அங்கீகாரம் மற்றும் அடுத்த நடைமுறைப் படி

இந்த ஆராய்ச்சி 2026 அக்டோபரில் அறிவிக்கப்பட்டது. KERI-யின் அறிவிப்பு பற்றிய செய்திகளில், அக்டோபர் 23 மற்றும் அக்டோபர் 25 ஆகிய தேதிகள் அறிவிப்பு நாளாகக் குறிப்பிடப்பட்டுள்ளன. இந்த ஆய்வு செப்டம்பர் 8 அன்று வெளியிடப்பட்டதாகத் தெரிவிக்கப்பட்டது; Acta Materialia இதழ், இதனை 2026 டிசம்பர் 1 தேதியிட்ட தொகுதி 321, கட்டுரை 122747 எனப் பட்டியலிடுகிறது.

சமீபத்திய கண்டுபிடிப்பு, இரண்டு ஆண்டுகளுக்கும் மேலாக நீடித்த ஆராய்ச்சியின் ஒரு பகுதியாக இருப்பதை முக்கியக் காலக்கட்டங்கள் காட்டுகின்றன:

• 2024 ஜூன் 1: முந்தைய ஆய்வு, 70 செதில்களில் சுமார் 50,000 பிழைகளைப் பரிசோதித்து, ஏற்றுக்கொள்ளப்பட்ட பல அலைநீள அடையாளங்களைக் கேள்விக்குள்ளாக்கியது.
• 2026 செப்டம்பர் 8: புதிய Acta Materialia ஆய்வு வெளியிடப்பட்டதாகத் தெரிவிக்கப்பட்டது; அதில் நிலையான (4,1) பிழை 459 நானோமீட்டருடன் இணைக்கப்பட்டது.
• 2026 அக்டோபர்: 207 செதில்கள் மற்றும் 104,439 பிழைகள் குறித்த விரிவான ஆய்வின் முடிவுகளை KERI அறிவித்தது.
• 2026 டிசம்பர் 1: ஆய்வுக் கட்டுரை இடம்பெற்ற Acta Materialia தொகுதிக்குக் குறிப்பிடப்பட்ட தேதி.

தொழில், வர்த்தகம் மற்றும் எரிசக்தி அமைச்சகத்தின் கலவை மின்சக்திக் குறைக்கடத்தி முன்னேற்றத் தொழில்நுட்ப மேம்பாட்டுத் திட்டம் இந்தப் பணிக்கு ஆதரவளித்தது. திருத்தக் கோரிக்கைகள் எதுவுமின்றி இந்த ஆய்வுக் கட்டுரை ஏற்றுக்கொள்ளப்பட்டது. Journal Citation Reports-இல் தன் துறையின் முதல் 5 சதவீத இதழ்களுக்குள் இடம்பெறுவதாக விவரிக்கப்பட்ட இதழில் இது வெளியானது.

SiC குறைபாட்டுப் பகுப்பாய்வு குறித்த ஆராய்ச்சிக்காக 2026 HORIBA மசாவோ விருதில் நா கௌரவக் குறிப்பையும் பெற்றார். KERI-யின் கூற்றுப்படி, 2004-இல் விருதுகள் தொடங்கியதிலிருந்து கொரிய ஆராய்ச்சி நிறுவனத்துடன் இணைந்த ஆராய்ச்சியாளர் ஒருவர் இந்த அங்கீகாரத்தைப் பெறுவது இதுவே முதல் முறை.

உற்பத்தியாளர்களைப் பொறுத்தவரை, திருத்தப்பட்ட அடையாளம் தற்போதைய ஆய்வு நடைமுறைகளில் எவ்வாறு பொருந்துகிறது என்பதை மதிப்பிடுவதே உடனடி பணியாகும். மேம்பட்ட வகைப்பாடு, குறைபாடுகளை வளர்ப்பு அல்லது செயலாக்கச் சூழல்களுடன் தொடர்புபடுத்தவும், எந்த மாற்றங்களைச் சோதிப்பது எனப் பொறியாளர்கள் முடிவெடுக்கவும் உதவும். குறைபாட்டைக் கண்டறிவதிலிருந்து அதன் காரணத்தைப் புரிந்துகொண்டு கட்டுப்படுத்துவது வரை இன்னும் துல்லியமான வழியை உருவாக்குவதே எதிர்பார்க்கப்படும் பயன்.

முக்கிய அம்சங்கள்

• 4H-SiC-இல் உள்ள நிலையான (4,1) ஃபிராங்க்-வகை அடுக்குப் பிழை, நீண்டகாலமாகப் பயன்படுத்தப்பட்ட 424 நானோமீட்டர் மதிப்புக்குப் பதிலாக, அறை வெப்பநிலையில் 459 நானோமீட்டரில் ஒளியை வெளியிடுகிறது.
• ஒன்பது விநியோகஸ்தர்களிடமிருந்து பெறப்பட்ட 207 வணிகச் செதில்களில் 104,439 அடுக்குப் பிழைகளை ஆய்வு பரிசோதித்தது.
• ஆராய்ச்சியாளர்கள் 176 மிக மெல்லிய மாதிரிகளைப் பரிசோதித்து, 459 நானோமீட்டரில் ஒளியை வெளியிட்ட இலக்காகத் தேர்ந்தெடுக்கப்பட்ட ஒன்பது குறைபாடுகளில் ஆறில் (4,1) அமைப்பை உறுதிப்படுத்தினர்.
• கணக்கீடுகள் ஒளிவெளியீட்டை சுமார் 444 முதல் 450 நானோமீட்டர் வரை என மதிப்பிட்டு, 450 நானோமீட்டருக்கு அருகிலான சமிக்ஞையை ஆதரித்தன.
• 2024 ஆய்வு, ஒற்றை ஷாக்லி-வகை (3,1) பிழை எனும் வேறுபட்ட குறைபாட்டை 424 நானோமீட்டரில் ஏற்கெனவே அடையாளம் கண்டிருந்தது.
• இந்தக் கண்டுபிடிப்புகள், IEC ஆய்வு வழிகாட்டுதலை மறுபரிசீலனை செய்வதற்கும் குறைபாடுகளின் வகைப்பாட்டை மேம்படுத்துவதற்கும் அறிவியல் அடிப்படையை வழங்குகின்றன.
• 2026 HORIBA மசாவோ விருதில் நா மூன்கியோங் கௌரவக் குறிப்பைப் பெற்றார்.